扫描电镜与透射电镜(电镜和显微镜的区别)
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2023-11-19
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1. 扫描电镜与透射电镜,电镜和显微镜的区别?
1、定义不同:显微镜(英文Optical Microscope,简写OM)是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光学仪器。
电子显微镜技术的应用是建立在光学显微镜的基础之上的,光学显微镜的分辨率为0.2μm,透射电子显微镜的分辨率为0.2nm,也就是说透射电子显微镜在光学显微镜的基础上放大了1000倍。2、分类不同:显微镜有多种分类方法,按使用目镜的数目可分为三目,双目和单目显微镜;按图像是否有立体感可分为立体视觉和非立体视觉显微镜;按观察对像可分为生物和金相显微镜等;按光学原理可分为偏光,相衬和微分干涉对比显微镜等。
电子显微镜按结构和用途可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。
3、组成结构不同:显微镜的光学系统主要包括物镜、目镜、反光镜和聚光器四个部件。广义的说也包括照明光源、滤光器、盖玻片和载玻片等。
![扫描电镜与透射电镜(电镜和显微镜的区别)](/static/artimg/20231114/6552520f37821.jpg)
2. 透射电镜在材料表面分析中的应用?
近年来有关“透射电镜动态拉伸原位观察”实验技术在材料工作中开展的文章日益增多,主要反映在金属材料的韧断过程,应力引发相变及塑料变形等领域。透射电镜方法也广泛用于材料的微观组织观察及分析。这些经验和启发,为今后在材料科学中进一步运用做准备。
由于实际流体中存在各种异相介质会降低流体的破坏强度,从而使高速流动的液体因局部压力下降而产生空化,形成空炮。当这些空泡进入流体的高压后受到压缩而溃灭,使产生一种很高频率,压力很大的微射流或冲击波在造成材料表面剥落的同时也会引起表层组织的变化,而有关材料在空蚀过程中组织变化规律的研究对于弄清其抗空蚀机制具有很重要意义。
采用单侧电解减薄方法制备透射电镜试样,无论对于奥氏稳定的组织都适用。事实上,通常的双侧电解减薄是以试样为阳极,二侧机械减薄试样不希望破坏的一侧用AC纸保护起来再进行电解减薄,也可以制备出比较理想的透射电镜观察样品。这种方法的好处在于能够Zda限度地保护Z终观察到的组织,确定来自被损坏的试样原始表面,特别是当试样中组织不稳定且机械研磨回引起组织转变的时候。此外,对于磨损及冲蚀等情况下材料损坏表面的透射电镜观察也具有重要的参考意义。
3. 扫描电镜二次成像原理?
扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。4. FIB和SEM的优劣分析?
FIB(聚焦离子束)和 SEM(扫描电子显微镜)都是用于在微米级和纳米级对样品进行成像和分析的工具。
FIB 是一种仪器,它使用离子束逐层研磨样品,以创建样品的 3D 重建。FIB 通常用于半导体、金属和陶瓷的成像和分析。它还用于创建样品的横截面视图,这对于故障分析很有用。
另一方面,SEM 使用电子束来创建样品表面的图像。它通常用于观察各种材料的表面特征,包括金属、聚合物、陶瓷和生物样品。它还可用于通过测量电子与样品相互作用产生的 X 射线来分析样品的成分。
就优势而言,FIB 具有创建 3D 重建和横截面视图的能力,而 SEM 可以提供高分辨率的表面成像。FIB 也是编辑或修改样品的有用工具,而 SEM 通常用于观察和分析。
就缺点而言,FIB 通常需要比 SEM 更多的样品制备,并且也更昂贵。SEM 还需要真空环境,这会限制可分析的样品类型。
总体而言,FIB 和 SEM 之间的选择将取决于具体应用和需要从样品中获取的信息。
5. 透射电镜形成什么图像?
透射电镜能将物质內部结构图像形成放大几十万倍至100万倍的清晰图像电镜,是目前最理想的放大图像倍数的电子透镜,能观察至物质分子、原子的内部清晰图像。
6. 为什么透射电镜的实际分辨率?
透射电镜的实际分辨率受到许多因素的影响,包括电子束的能量、样品的性质、仪器的性能等。
一般来说,透射电镜的分辨率取决于电子束直径,而电子束直径又由电子束的波长和透镜的调节能力决定。另外,样品的厚度和化学成分也会对分辨率产生影响。因此,在使用透射电镜时,需要综合考虑这些因素,以获得最佳的分辨率。
7. 植物细胞超微结构是用什么观察的?
研究植物细胞的构造需要借助显微镜才能观察清楚,光学显微镜的分辨极限不小于0.2μm,有效放大倍数一般 不大于1600倍。光镜下看到的结构称为显微结构 。要观察更细微的结构, 则需要用电子显微镜, 包括扫描电镜或透射电镜, 观察到的细胞结构称为超微结构或亚显微结构
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1. 扫描电镜与透射电镜,电镜和显微镜的区别?
1、定义不同:显微镜(英文Optical Microscope,简写OM)是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光学仪器。
电子显微镜技术的应用是建立在光学显微镜的基础之上的,光学显微镜的分辨率为0.2μm,透射电子显微镜的分辨率为0.2nm,也就是说透射电子显微镜在光学显微镜的基础上放大了1000倍。2、分类不同:显微镜有多种分类方法,按使用目镜的数目可分为三目,双目和单目显微镜;按图像是否有立体感可分为立体视觉和非立体视觉显微镜;按观察对像可分为生物和金相显微镜等;按光学原理可分为偏光,相衬和微分干涉对比显微镜等。
电子显微镜按结构和用途可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。
3、组成结构不同:显微镜的光学系统主要包括物镜、目镜、反光镜和聚光器四个部件。广义的说也包括照明光源、滤光器、盖玻片和载玻片等。
2. 透射电镜在材料表面分析中的应用?
近年来有关“透射电镜动态拉伸原位观察”实验技术在材料工作中开展的文章日益增多,主要反映在金属材料的韧断过程,应力引发相变及塑料变形等领域。透射电镜方法也广泛用于材料的微观组织观察及分析。这些经验和启发,为今后在材料科学中进一步运用做准备。
由于实际流体中存在各种异相介质会降低流体的破坏强度,从而使高速流动的液体因局部压力下降而产生空化,形成空炮。当这些空泡进入流体的高压后受到压缩而溃灭,使产生一种很高频率,压力很大的微射流或冲击波在造成材料表面剥落的同时也会引起表层组织的变化,而有关材料在空蚀过程中组织变化规律的研究对于弄清其抗空蚀机制具有很重要意义。
采用单侧电解减薄方法制备透射电镜试样,无论对于奥氏稳定的组织都适用。事实上,通常的双侧电解减薄是以试样为阳极,二侧机械减薄试样不希望破坏的一侧用AC纸保护起来再进行电解减薄,也可以制备出比较理想的透射电镜观察样品。这种方法的好处在于能够Zda限度地保护Z终观察到的组织,确定来自被损坏的试样原始表面,特别是当试样中组织不稳定且机械研磨回引起组织转变的时候。此外,对于磨损及冲蚀等情况下材料损坏表面的透射电镜观察也具有重要的参考意义。
3. 扫描电镜二次成像原理?
扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。4. FIB和SEM的优劣分析?
FIB(聚焦离子束)和 SEM(扫描电子显微镜)都是用于在微米级和纳米级对样品进行成像和分析的工具。
FIB 是一种仪器,它使用离子束逐层研磨样品,以创建样品的 3D 重建。FIB 通常用于半导体、金属和陶瓷的成像和分析。它还用于创建样品的横截面视图,这对于故障分析很有用。
另一方面,SEM 使用电子束来创建样品表面的图像。它通常用于观察各种材料的表面特征,包括金属、聚合物、陶瓷和生物样品。它还可用于通过测量电子与样品相互作用产生的 X 射线来分析样品的成分。
就优势而言,FIB 具有创建 3D 重建和横截面视图的能力,而 SEM 可以提供高分辨率的表面成像。FIB 也是编辑或修改样品的有用工具,而 SEM 通常用于观察和分析。
就缺点而言,FIB 通常需要比 SEM 更多的样品制备,并且也更昂贵。SEM 还需要真空环境,这会限制可分析的样品类型。
总体而言,FIB 和 SEM 之间的选择将取决于具体应用和需要从样品中获取的信息。
5. 透射电镜形成什么图像?
透射电镜能将物质內部结构图像形成放大几十万倍至100万倍的清晰图像电镜,是目前最理想的放大图像倍数的电子透镜,能观察至物质分子、原子的内部清晰图像。
6. 为什么透射电镜的实际分辨率?
透射电镜的实际分辨率受到许多因素的影响,包括电子束的能量、样品的性质、仪器的性能等。
一般来说,透射电镜的分辨率取决于电子束直径,而电子束直径又由电子束的波长和透镜的调节能力决定。另外,样品的厚度和化学成分也会对分辨率产生影响。因此,在使用透射电镜时,需要综合考虑这些因素,以获得最佳的分辨率。
7. 植物细胞超微结构是用什么观察的?
研究植物细胞的构造需要借助显微镜才能观察清楚,光学显微镜的分辨极限不小于0.2μm,有效放大倍数一般 不大于1600倍。光镜下看到的结构称为显微结构 。要观察更细微的结构, 则需要用电子显微镜, 包括扫描电镜或透射电镜, 观察到的细胞结构称为超微结构或亚显微结构
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